牛津X-Strata920無損鍍層測厚儀廣泛用于電子元器件、半導體、PCB、FPC、LED支架、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器、端子、衛浴潔具、首飾飾品........多個行業表面鍍層厚度的測量及材料分析，低成本、高效率。

     X-Strata920工作原理：對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線，通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能力和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。